I microscopi elettronici a scansione (Scanning Electron Microscope, SEM) permettono di ottenere immagini a forti ingrandimenti di campioni inorganici tal quale ed organici, previo opportuna operazione di fissaggio, con risoluzioni fino a 3.5 nm. Il SEM è solitamente accompagnato da appositi spettrometri EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometry) e/o WDS (Wavelength-Dispersive X-ray Spectrometry) che permettono di eseguire analisi chimiche elementali su singoli punti o aree sfruttando la radiazione X secondaria prodotta dal campione in esame.
I NOSTRI SERVIZI
SEM Jeol JSM5310 (DiSTAR) con un rivelatore EDS del tipo X-Stream Inca della Oxford che permette di ottenere analisi puntuali qualitative su campioni contenenti elementi leggeri a partire dal fluoro
FESEM Merlin VP della ZEISS (DiSTAR) dotato di una camera Gemini II molto ampia, che ospita campioni di dimensioni fino a 15 cm, in grado di lavorare sia a pressione variabile che ad alto vuoto. Questo modello è dotato di un sistema EDS X-Max della Oxford che uno spettrometro WDS che consente l’analisi di elementi a partire dal boro
SEM Zeiss EVO HD15 (DST) con spettrometro EDS Oxford X-MaxN 80T, in grado di lavorare sia a pressione variabile che ad alto vuoto.
